通过考察高纯水设备（EDI）膜堆由非稳态到稳态的过程中浓水电导率的变化规律以及处于稳态条件下的V-I特性曲线,探讨高纯水设备（EDI）处理过程中水解离的基本特征.研究表明,在膜堆内部离子一旦发生定向迁移,在树脂表面水界面层中就会形成较高的电势梯度,引起水的解离,而且在高电流密度下,高纯水设备淡室中离子交换膜表面水界面层也会发生水解离.